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D8 X射线衍射仪 布鲁克代理商

  • 更新时间:  2020-08-10
  • 产品型号:  
  • 简单描述
  • 布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。
详细介绍

布鲁克 D8 达芬奇 X射线衍射仪

布鲁克D8达芬奇X射线衍射仪

型号:D8 Advance

产地:德国

 

 

布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过革命性的TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!

     

高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度,布鲁克AXS公司提供全球保证!

先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,不仅答复提高设备的使用效率, 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。

 

技术指标:                                          

Theta/theta 立式测角仪                              

2Theta角度范围:-110~168°

角度精度:0.0001度                    

Cr/Co/Cu靶,标准尺寸光管                  

探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器                  

仪器尺寸:1868x1300x1135mm                            

重量:770kg     

                                        

应用

物相定性分析

结晶度及非晶相含量分析

结构精修及解析

物相定量分析

点阵参数精确测量

无标样定量分析

微观应变分析

晶粒尺寸分析

原位分析

残余应力

低角度介孔材料测量

织构及ODF分析

薄膜掠入射

薄膜反射率测量

小角散射

 

 


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