X射线衍射仪是材料学相关领域基础且不能缺少的分析手段，具备无损、样品制备简单等优势。X射线衍射仪一般主要由X射线光源部分、测角仪、样品台、光路系统、探测器五大部分组成。Bruke结合具备优异性能的LYNXEYE系列能量色散阵列探测器的优势，在桌面衍射仪这个平台上大胆的尝试了新的结构和运动逻辑，强势推出了一款跨界的多功能桌面式（台式）衍射系统D6 Phaser

三维X射线显微镜 （XRM）SKYSCAN 2214 CMOS版是Bruker新推出的一代全新纳米级三维X射线显微镜（XRM），除了保留上一代SKYSCAN2214 ＜500nm的真正三维空间分辨率和多探测器配置（不超过4个）等*性能外，该设备在X射线源功率和探测器类型方面进行了多方面升级，以确保用户能够获得更大的成像视野和更明亮的图像数据。

1） 6KW高强度Cu转靶光源2） 垂直q/qATLAS测角仪Ultra compact design3） Eiger2 R 500k二维探测器4） 液氦低温系统PheniX cryostat：12K~300K5） 液氮低温系统：MTC-LOWTEMP液氮温度到450度6） 环境加热高温：MTC-FURNACE室温-1100度；X射线衍射仪高分辨透射及PDF散射系统检测

原位高低温附件可以在材料合成过程中来观察材料结构变化，探索材料合成条件；也可以用来探测充放电到某个电位下材料随温度变换而产生的相应的结构变化，这对探讨实际电池安全性产生的原因之一，即材料结构变化引起的安全问题是一种重要的手段；$n科研支撑、变温物相分析、变温过程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞参数及动力学分析；分析、电池充放电物相分析、原位电化学反应物相分析。高分辨薄膜 X 射线衍射仪检测

原位高低温附件可以在材料合成过程中来观察材料结构变化，探索材料合成条件；也可以用来探测充放电到某个电位下材料随温度变换而产生的相应的结构变化，这对探讨实际电池安全性产生的原因之一，即材料结构变化引起的安全问题是一种重要的手段；科研支撑、变温物相分析、变温过程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞参数及动力学分析；电池充放电物相分析、原位电化学反应物相分析。原位X射线衍射仪检测

布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以进行双微焦斑单晶X射线衍射仪检测。