X4 POSEIDON 是优良的高分辨率三维 X 射线成像系统，它建立在我们久负盛名的 SKYSCAN 1272 和 SKYSCAN 1275 系统的成功基础之上。

布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。

三维X射线显微镜 （XRM）SKYSCAN 2214 CMOS版是Bruker新推出的一代全新纳米级三维X射线显微镜（XRM），除了保留上一代SKYSCAN2214 ＜500nm的真正三维空间分辨率和多探测器配置（不超过4个）等*性能外，该设备在X射线源功率和探测器类型方面进行了多方面升级，以确保用户能够获得更大的成像视野和更明亮的图像数据。

微纳米高分辨率CT-X射线显微成像系统（3D-XRM，混凝土微观分析）是布鲁克推出的全新纳米断层扫描系统，是显微 CT 技术领域的*，在为用户带来了终级分辨率的同时,提供优质的用户体验。SKYSCAN 纳米CT高分辨率线显微成像系统（3D-XRM，混凝土微观分析） 的每个组件都融入了全新的技术，使其成为当今市场上性能、适用性都广泛的系统。

1） 6KW高强度Cu转靶光源2） 垂直q/qATLAS测角仪Ultra compact design3） Eiger2 R 500k二维探测器4） 液氦低温系统PheniX cryostat：12K~300K5） 液氮低温系统：MTC-LOWTEMP液氮温度到450度6） 环境加热高温：MTC-FURNACE室温-1100度；X射线衍射仪高分辨透射及PDF散射系统检测

原位高低温附件可以在材料合成过程中来观察材料结构变化，探索材料合成条件；也可以用来探测充放电到某个电位下材料随温度变换而产生的相应的结构变化，这对探讨实际电池安全性产生的原因之一，即材料结构变化引起的安全问题是一种重要的手段；$n科研支撑、变温物相分析、变温过程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞参数及动力学分析；分析、电池充放电物相分析、原位电化学反应物相分析。高分辨薄膜 X 射线衍射仪检测