应用背景该文章翻译于FraunhoferCSP和DiagnosticsａndMetrologySolarCellsdivision等机构共同研究的工作。电势诱导衰减（PID效应）普遍存在于晶体硅太阳能电池中，通常是由钠离子产生分流效应引起的，传统太阳能电池已经开发出标准的PID测试条件。利用FreiburgInstruments开发的PIDcon设备，我们研究了标准化PID测试程序是否适用于各种结构和成分的钙钛矿太阳能电池，结果发现尽管钙钛矿材料与硅基电池结构有明显差异，但P...

在当今科技飞速发展的时代，CT-半导体元器件犹如一颗颗微小却无比强大的明珠，镶嵌在各种电子设备之中，成为现代科技的基石。CT-半导体元器件的核心在于其独特的导电特性。半导体的导电能力介于导体和绝缘体之间，这一特性使得人们可以通过精确的控制手段，如掺杂杂质原子等方法，来改变其电学性能。例如，在硅晶体中掺入磷原子就会产生多余的电子，形成N型半导体;而掺入硼原子则会产生空穴，成为P型半导体。这种对材料电学性质的精准调控为制造各种功能各异的半导体元器件奠定了基础。晶体管是最具代表性的...

在工程力学和材料科学领域，对材料的内部结构和力学行为的深入研究至关重要。这不仅关系到材料的应用性能，还直接影响到工程安全和效率。目前，我们要介绍的是Skyscan2214和MTS（材料力学试验机）这一对在力学研究中不能缺少的黄金搭档。Skyscan2214：高分辨率X射线成像系统Skyscan2214是由Bruker公司生产的高分辨率X射线成像系统，它在材料内部结构研究中扮演着重要角色。以下是Skyscan2214的一些关键特性和应用：1.高分辨率成像能力Skyscan221...

掠入射衍射介绍掠入射衍射（GID,Grazingincidencediffraction）是研究多晶薄膜的一种常用方法。薄膜样品在Bragg-Brentano对称衍射中通常表现出非常微弱的衍射信号，原因在于X射线可穿透薄膜照射到底层衬底，由于衬底其较大的散射体积，导致其衍射信号在终端信号中占据主导地位。然而，如果不是BB几何的发散光路，而是一束细的平行光束照向样品表面，这样它只穿透薄膜而不穿透下方的衬底材料，那么来自薄膜的衍射信号则会成为主导。通过优化平行光束的入射角度，可以...

在现代半导体制造业中，对晶圆片表面质量的精确检测是至关重要的。晶圆片在线面扫检测仪作为一种先进的检测设备，因其能够实时监控晶圆片表面的微小缺陷，被广泛应用于半导体生产线上。晶圆片在线面扫检测仪的设计充分考虑了高效检测的需求。它通常由一个高速扫描系统和一个高分辨率成像系统组成，能够在晶圆片传输过程中实时捕捉表面图像，并通过图像处理算法自动识别和分类各种缺陷。这种设计不仅能够提高生产效率，还能够显著降低因缺陷导致的产品报废率。晶圆片在线面扫检测仪还具备多种高级功能，以满足不同的应...

上篇介绍了俄歇电子能谱（AES）的定性分析、定量分析及化学态分析功能，本篇我们将继续分享更多AES高级功能，其中包括表面形貌观察、深度分析及显微分析。表面形貌观察AES作为一种先进的电子束探针表征技术，在纳米级乃至更高精度的空间分辨要求上展现出了强大的优势，因此非常适用于纳米尺度材料的表征。与扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）等依赖电子束探针的技术相似，AES在电子束聚焦能力上表现出色，尤其是场发射电子束技术的融入，极大地提升了其空间分辨能力。当前PHI710...

顺磁共振谱仪(EPR)是一种基于电子自旋共振现象，用于研究含有未成对电子的顺磁物质的仪器。其工作原理和优势如下：工作原理1.建立磁场：首先在仪器中建立一个强磁场，通常使用超导磁体来产生很高的磁场。2.激发电磁辐射：使用微波源产生特定频率的微波辐射，这个频率通常是与顺磁物质的共振频率相匹配的。微波辐射被引导到样品中，并与样品中的未成对电子进行相互作用。3.收集信号：通过所谓的共振回路(resonator)收集样品中电子的共振信号。共振回路是通过感应线圈和谐振电路组成的。4.分析...

在半导体制造领域，质量控制是确保芯片性能和可靠性的关键环节。随着技术的发展，晶圆片在线面扫检测仪成为了这一过程中不可或缺的工具。晶圆片在线面扫检测仪是一种高精度的检测系统，专门用于监测晶圆片表面的微小缺陷。这些缺陷可能包括颗粒污染、划痕或图案不完整等，它们都可能影响最终产品的性能。通过实时监测，该设备能够及时发现问题并反馈给生产线，从而避免不良品的产生。该检测仪基于光学扫描技术。一束激光或强光被引导至晶圆片表面，并通过高分辨率的摄像头捕捉反射回来的光线。如果晶圆片表面存在任何...