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用于晶体定向测量的桌面型X射线衍射仪

  • 更新时间:  2020-07-30
  • 产品型号:  弗莱贝格--DDCOM
  • 简单描述
  • 德国弗莱贝格DDCOM(用于晶体定向测量的桌面型X射线衍射仪)主要应用于单晶的完全晶格取向的确定,其采用Omega扫描方法对样品进行超高速晶体定位测量,可以测定立方晶体的任意位置取向,该设备配置了气冷式X射线管,操作过程无需水冷,适用于科学研究及生产质量控制。
详细介绍

►产品介绍

德国弗莱贝格DDCOM(用于晶体定向测量的桌面型X射线衍射仪)主要应用于单晶的完全晶格取向的确定,其采用Omega扫描方法对样品进行超高速晶体定位测量,可以测定立方晶体的任意位置取向,该设备配置了气冷式X射线管,操作过程无需水冷,适用于科学研究及生产质量控制。

►技术特点

 --确定单晶的完全晶格取向

 --使用Omega扫描方法的超高速晶体定位测量

 --立方晶体任意未知取向的测定

 --特别设计用于点阵方向的方位设置和标记

 --气冷式x射线管,无需水冷

 --适合于研究和生产质量控制

 

所有想要的晶体方向参数在5秒内一次旋转中被捕获

 

►可测量材料的例子

 --立方/任意未知方向:Si, Ge, GaAs, GaP, InP 

 --立方/特殊取向:Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3

 --正方:MgF2, TiO2, SrLaAlO4

 --六方/三角:SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2(石英),Al2O3(蓝宝石),GaPO4, La3Ga5SiO14

 --斜方晶系:Mg2SiO4 NdGaO3

 --另可根据客户的要求进一步选料

 

 

►DDCOM的应用
 

平面方向的标记和测量

 --在晶圆片的注入和光刻过程中,需要平面或凹槽作为定位标记。切割过程中,晶片必须正确地对准晶圆片上易于切割的晶格面。因此,检查平面或缺口的位置至关重要

 --为了确定平面或缺口的位置,就需要测量平面内的部件。由于Omega扫描法可以在一次测量中确定完整的晶体方位基于此便可以直接识别在平面方向或检查方向的单位或缺口。

  --DDCOM用于晶体定向测量的桌面型X射线衍射仪通过旋转转盘,可以将任何平面方向转换成用户指定的特定位置。在必须定义平面方向的情况下,可以大大简化将标记应用到特定平面方向的过程


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