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飞行时间质谱仪

  • 更新时间:  2020-08-03
  • 产品型号:  PHI nanoTOF II
  • 简单描述
  • PHI nanoTOF IITM飞行时间质谱仪是第五代SIMS仪器,该仪器具有独特的飞行时间(TOF)分析仪,它拥有市场上TOF-SIMS仪器中最大的角度和能量接收范围,它使用了具有优良离子传输能力的三级聚焦半球形静电分析器,实现了高空间分辨率和质量分辨率。PHI nanoTOF IITM还具有很高的成像能力,可以表征形貌复杂的样品而没有阴影效应。
详细介绍

►产品介绍

 

TRIFT-V nanoTOF II(三次聚集飞行时间)二次离子质谱仪是超灵敏的表面分析技术,可检测表面分子成分和分布,元素及其同位素。所有元素和同位素,包括氢都可以用飞行时间二次离子质谱分析。由初级脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子,经飞行时间分析器分析二次离子的荷质比,从而得知样品表面信息。

 

PHI nanoTOF IITM飞行时间质谱仪是第五代SIMS仪器,该仪器具有独特的飞行时间(TOF)分析仪,它拥有市场上TOF-SIMS仪器中最大的角度和能量接收范围,它使用了具有优良离子传输能力的三级聚焦半球形静电分析器,实现了高空间分辨率和质量分辨率。PHI nanoTOF IITM还具有很高的成像能力,可以表征形貌复杂的样品而没有阴影效应。

 

      

 

飞行时间质谱仪-特点:

 

  1、立体收集角度大和深景深

  2、同时实现高空间及高能量分辨模式

  3、视野范围最小可至5微米

  4、低背景和亚稳抑制

  5、多种离子枪选配实现高精度深度剖析

  6、FIB-TOF三维深度分布成像

  7、串联质谱MS/MS (有机高分子材料分析必备附件)

  8、SmartSoftTM-TOF配合WinCadence软件易于操作

  9、多样化的样品托

 

►nanoTOF II仪器规格:

 

Bi 作为一次离子源时:

  1、低质量数质量分辨率(m/Δm):硅(28Si+和28SiH+)在12000以上

  2、高质量数质量分辨率(m/Δm):m/z > 200,在 16,000以上

  3、有机材料的质量分辨率(m/Δm):PET(104 amu)在12000以上

  4、最小离子束直径:70纳米(高空间分辨率模式)、0.5μm(高质量分辨率模式)

 

►nanoTOF II选配

 

串联质谱MS/MS、氩气团簇离子枪、C60离子枪、铯离子枪、氩/氧离子溅射枪、样品冷却/加热系统、样品高温加热系统、真空转移装置、氧喷射系统、Zalar高速旋转系统、聚焦离子束FIB(Focused Ion Beam)、前处理室、各种样品托、离线数据处理系统、Static SIMS Library等。                                        


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