高分辨薄膜X射线衍射仪检测

更新时间： 2024-03-04
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简单描述
原位高低温附件可以在材料合成过程中来观察材料结构变化，探索材料合成条件；也可以用来探测充放电到某个电位下材料随温度变换而产生的相应的结构变化，这对探讨实际电池安全性产生的原因之一，即材料结构变化引起的安全问题是一种重要的手段；
科研支撑、变温物相分析、变温过程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞参数及动力学分析；分析、电池充放电物相分析、原位电化学反应物相分析。高分辨薄膜 X 射线衍射仪检测

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详细介绍

高分辨薄膜X射线衍射仪检测

项目	细则	收费	说明
Rocking Curve	单一图谱，30min 以内；若超过 30min，延长时间按240元 /30min计，不足30min 按 30min计；薄膜带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状，厚度≤1mm，直径≤2cm	240元/样	1.长时间数据手机（大于5h）、复杂样品等特殊测试，价格需面议； 2.原位测试需提供测试方法
2Theta/Omega Scan	对称扫描单一图谱，30min 以内；扫描时间大于 30min，延长时间按240元/30min，不足 30min 按 30min 计	240元/样
2Theta/Omega Scan	不对称扫描单一图谱，30min 以内；扫描时间大于 30min，延长时间按 240元/30min计，不足 30min 按 30min 计	300元/样
Skew Scan	不对称扫描单一图谱，30min 以内；扫描时间大于 30min，延长时间按 240 元/30min计，不足 30min 按 30min 计	300元/样
XRR	单一图谱，30min 以内；扫描时间大于 30min，延长时间按240 元 /30min计，不足30min 按 30min 计	300元/样
GID	单一图谱，30min 以内；扫描时间大于 30min，延长时间按240 元 /30min计，不足30min 按 30min 计	300元/样
Phi Scan	Phi 扫描单一图谱，30min 以内；扫描时间大于30min，延长时间按 240元/30min计，不足 30min 按 30min 计	300元/样
RSM	单点倒易空间 mapping 单一图谱，30min 以内；扫描时间大于 30min，延长时间按240元/30min计，不足30min 按 30min 计	400元/样
低温测试	包含 2 个温度点，第二点后， 240 元/ 测试点；低温测试液氮另加30元/时	900元/样

高分辨薄膜X射线衍射仪检测

仪器功能特点：

1- 高效的6KW TXS-HE转靶光源，强度是封闭靶的5倍；

2- 入射光路三光路自动切换系统：粉末衍射聚焦光路、薄膜反射、掠入射平行光路；高分辨光路：高分辨毛细管透射、反射、外延薄膜高分辨；

3- 探测器的开口大，适合测试速度快原位；配置准直器后开展二维衍射实时分析，还原原位二维信息；配备的高低温系统可实时检测反应中结构的演变过程；

4- 原位充放电、原位电化学附件更是快速准确地追溯揭示了phase transformation过程。

应用范围：

原位高低温附件可以在材料合成过程中来观察材料结构变化，探索材料合成条件；也可以用来探测充放电到某个电位下材料随温度变换而产生的相应的结构变化，这对探讨实际电池安全性产生的原因之一，即材料结构变化引起的安全问题是一种重要的手段；

科研支撑

变温物相分析

变温过程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞参数及动力学分析

分析、电池充放电物相分析、原位电化学反应物相分析。

产业支撑

药物作用机理及动力学分析、药物理化性质及稳定性分析。

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