GCIB-40 离子源系统是一种40 kV气体团簇离子束，产生团簇离子聚焦束，用于需要对分子离子敏感的分析应用。GCIB在较大程度地减少碎片和从表面去除完整分子方面具有单独的的能力。在40千伏电压下工作的GCIB 40提供了优异的电离产率，进一步增强了分子信号。

简介：

GCIB-40 离子源系统是一种40 kV气体团簇离子束，产生团簇离子聚焦束，用于需要对分子离子敏感的分析应用。 

GCIB 40在较大程度地减少碎片和从表面去除完整分子方面具有优异的处理能力。在40千伏电压下工作的GCIB 40提供了优异的电离产率，进一步增强了分子信号。 

GCIB-40 离子源系统具有可选择的簇大小，从单体到10000多个，斑点大小小于3µm，是分析完整分子离子的强大工具，具 有高空间分辨率。

可在J105 SIM上使用，或作为选定第三方仪器的升级。请与我们联系以获取更多信息。

主要参数：

特点:  

◇  40 kV气体团簇离子束，光斑尺寸为3µm；

◇  实时集群测量和调整；

◇  从单体到>10000的可选簇；

◇  使用一系列气体运行，包括Ar、CO2、Ar/CO2混合气体；

◇  水源团簇升级可用；

应用技术： 

由于离子束和分子信号的丢失，有机样品的SIMS分析通 常会导致碎片。使用GCIB，可以减少损伤，以便对材料进行分析和深度剖面。

然而，在近束能量（<40 kV）下，GCIB的二次离子产额可能较低。在更高的能量下操作会产生更高的二次离子产率，同时仍然保持低损伤特性。

下图显示了在分析有机样品时，离子产额如何与束流能量成比例。尽管一次离子剂量保持不变，但来自Irganox  1010薄膜的二次离子信号从20kV到40kV一次束能量增加了五倍以上。 同时，在所有的光束能量中，碎片几乎保持不变。