晶锭自动化单晶定向系统重塑晶锭研磨前处理工艺：自动化、高精度、高效率。可使现有设备满足 200 毫米及 300 毫米规格晶锭的高级外径 / 缺口技术标准 。

Ingot XRD 300 OD/Notch

晶锭自动化单晶定向系统

Enables existing equipment to reach high-end OD/Notch specs for 200 mm and 300 mm ingots

可使现有设备满足 200 毫米及 300 毫米规格晶锭的高级外径 / 缺口技术标准      

Rethink your ingot grinding preparation: automated, precise, fast.

重塑晶锭研磨前处理工艺：自动化、高精度、高效率

Features & Benefits:   

-- Highest precision with high-speed measurement: < 5 secs/sample

    高精度 + 高速检测：单样品检测耗时＜5 秒

-- Typical standard deviation tilt (example: Si 100): < 0.003 °, minimum < 0.001 °

    典型倾斜标准偏差（示例：硅 晶面）：＜0.003°，最小值＜0.001°

-- Automatic ingot alignment

    晶锭自动对准

-- Automatic positioning of glue pieces

    实现胶块自动定位

-- Optical determination of geometric features (flat/notch position) of raw and/or grinded ingots

    未加工及 / 或已研磨晶锭几何特征（平边 / 缺口位置）的光学测定

-- Automatic marking of ingots

    晶锭自动打标

-- Easy integration into process line (manual or robotic loading)

    易于集成至产线（支持人工或机器人上料）

-- Data Matrix Code (DMC) reader

    数据矩阵码（DMC）读取器

-- MES interface; SECS/GEM or similar

    制造执行系统接口；支持 SECS/GEM 或同类通信协议

-- up to 300 mm diamter and up to 520 mm lenght ingots

    Z大直径可达 300 毫米、Z大长度可达 520 毫米的晶锭

Advantages of the Omega-Scan Method

Omega-Scan 方法重要优势 （Freiberg Instruments 重要技术）：

---Stable and Simplified Setup

The X-ray tube and detector remain fixed, requiring only a single measuring circle and no monochromator.

稳定便捷的安装调试

X 射线管与探测器固定不动，只需单次测量周期，且无需单色仪。

---Comprehensive Data Collection

All necessary data for full orientation determination is captured in just one rotation.

全方面数据采集

单次旋转即可采集全定向测定所需全部数据。

--High Precision with Minimal Measurement Time

The method delivers exceptional accuracy within a short measurement duration.

高精度・测量耗时短

短时间内即可实现优异精度。

These features make the Omega-Scan method particularly well-suited for routine measurements and industrial applications, where speed and reliability are essential.

凭借这些特性，Omega-Scan 方法尤为适配常规测量与工业应用场景 —— 这类场景对速度与可靠性有着重要要求。

Understanding the Omega-Scan Method

晶锭自动化单晶定向系统解读 Omega-Scan 方法

The Omega-Scan technique involves rotating the specimen 360° around a specific axis, such as the surface normal. The X-ray source and detector are positioned based on the crystal type to ensure an optimal number of reflections per turn. By analyzing the angular positions of these reflections, the crystal lattice orientation is determined in relation to the rotation axis.

Omega-Scan 技术的工作原理为：将试样绕某一特定轴（如表面法线）完成 360° 旋转，X 射线源与探测器则根据晶体类型进行定位，以确保每圈旋转均可获得优异的反射次数。通过分析这些反射信号的角度位置，即可确定晶格取向相对于旋转轴的具体方位。

To precisely align the lattice orientation with the crystal surface, a laser beam checks the surface direction. Other relevant reference planes or directions can also be measured using optical tools. This technique enables accurate orientation measurement of single crystals in any configuration, achieving a reproducibility within a few arc seconds—often in just a few seconds of measurement.

为精确校准晶格取向与晶体表面的对位关系，激光束会对晶体表面方向进行检测。其余相关参考平面或方向，亦可通过光学工具完成测量。

该技术可实现对任意形态单晶的高精度取向测量，重复性精度控制在数角秒范围内 —— 且单次测量耗时通常只需数秒。

A specialized application of the Omega-Scan method is precision lattice-parameter determination, particularly for cubic crystals, providing highly accurate structural insights.

Omega-Scan 方法的一项专业应用方向为高精度晶格参数测定，该应用尤其适用于立方晶体，可提供高精度的晶体结构解析能力。

User-Friendly and Advanced Operating Software

人性化操作软件

多种操作模式

操作员模式：采用固定测量参数设计，保障操作流程安全高效。

管理员模式：支持测量配方的创建与修改，可针对新型材料调整参数。

直观引导式操作界面

确保不同经验水平的用户，均可享受到流畅高效的操作流程。

预设配方与自定义配方双模式

既可从丰富的现成配方中直接选用，也可根据特定需求创建专属配方。

测量结果与修正值自动显示

可即时查看测量结果，同步自动生成修正值，助力晶格取向精确调校。

图谱分析功能

搭载图谱分析功能，赋能高精度测量分析工作。

数据导入导出功能

可轻松完成数据导入导出，便于数据共享及与其他系统的集成对接。