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见“微”知著|第二代S8 TIGER微区分析系统简介

浏览次数:65发布日期:2020-08-19

传统的X射线荧光光谱仪(XRF)分析时要求制样均匀,既熔片、压片、金属块或液体等。

 

 

 

但如果遇到不均匀的样品或对特殊样品的某一区域感兴趣时,传统的分析就无法满足需求了。

 

这时需要进行微区分析,也就是针对小尺寸样品或样品某一特定区域进行定性、定量或元素分布分析。

 

 

 

传统的微区分析方法包括:

 

​—扫描电镜(SEM) 

激光剥离等离子质谱(LA-ICPMS)  

带毛细管聚焦的能量色散X射线荧光光谱仪等  

 

但这些分析手段或多或少的都存在一些局限: 

 

分析样品尺寸小 

灵敏度一般  

精度不够  

以及有的会对样品造成破坏等等  

 

而波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)的微区分析则很好地解决了这些问题 

 

凭借HighSenseTM技术和市面同等仪器最小尺寸准直器面罩(300μm),第二代S8 TIGER能对最小到0.3mm并可选1.25mm的微小区域开展高灵敏度的元素定性、定量、无标样定量及元素分布分析,步长0.1mm。 

轻元素采用正比探测器,重元素采用闪烁探测器,灵敏度提高10倍,实现了同级别仪器里真正的微区分析。  

此外,高清摄像头能够对感兴趣区域拍摄图片,保证微区分析的针对性和重现性。  

 

 

 

它可以在科研(地质、材料科学)和质量控制(电子、材料科学、镀层)上给予我们帮助,可以分析不均匀的地质、生物样品或进行技术产品的监控(CIS/CIGS 太阳能电池),它还可以对小颗粒或导致产品不合格的异物(聚合物、玻璃、金属等产品的问题判断)进行确认等等。

 

 

 

应用实例:

 

1

分析陨石

 

 

 

▲来自美国亚利桑那州巴林杰陨石坑“Canyon Diablo”的铁镍陨石

 

 

 

 

2

分析化石

 

 

 

▲鹦鹉螺化石

 

 

 

 

3

分析矿物

 

 

 

▲铌钽铁矿

 

 

 

 

 

4

分析耐火材料

 

 

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