在新材料研发、半导体制造、医药化工、地质矿产等众多领域,物相鉴定、晶体结构解析、薄膜性能表征是把控产品质量、推动技术突破的核心环节。作为材料表征领域的主流精密设备,X 射线衍射仪凭借非破坏性、高精度的检测特性,已成为各大实验室与工业产线质检环节不可少的核心分析工具。

一、什么是 X 射线衍射仪?
X 射线衍射仪(简称 XRD)是利用 X 射线在晶体材料中产生的衍射效应,采集样品的衍射图谱,进而解析材料物相组成、晶体结构、晶粒尺寸、残余应力等微观信息的精密分析仪器。其核心原理基于布拉格衍射定律:当 X 射线照射到晶体样品时,不同晶面会在特定角度产生衍射信号,通过系统采集、解析这些信号,即可反推材料的微观结构与物相特征。
从常规粉末样品的定性定量分析,到薄膜、块体、纤维等特殊样品的深度表征,再到原位环境下的动态过程监测,X 射线衍射仪的应用场景已覆盖科研院所、高校实验室、新能源、半导体、冶金、制药等多个行业,是材料科学研究与工业质量控制的核心支撑设备。

二、束蕴仪器携手布鲁克,打造高端 XRD 解决方案
作为专业的实验室分析仪器服务商,束蕴仪器(上海)有限公司深耕精密检测设备领域,代理推出德国布鲁克 AXS 公司全新 D8 ADVANCE 达芬奇 X 射线衍射仪,以创新的光路设计、极致的检测精度与全面的分析能力,为国内用户提供高效、可靠的材料分析整体解决方案。
这款 D8 ADVANCE X 射线衍射仪搭载多项布鲁克zhuan利技术,突破了传统 XRD 设备光路切换繁琐、应用场景受限、检测效率偏低的痛点,兼顾粉末衍射、薄膜分析、微区表征等多元需求,是适配多行业、全类型样品的高端分析平台。

三、四大核心技术优势,重新定义 XRD 使用体验
1. 双光路全自动切换,多场景应用无需人工对光
D8 ADVANCE 采用布鲁克专属发明的 TWIN-TWIN 光路设计,可在 Bragg-Brentano 聚焦几何与平行光几何之间全自动切换,全程无需人工对光调试。聚焦几何模式适配粉末样品的高精度定性定量分析,平行光模式则支持不良形状样品、涂层与薄膜的掠入射 GID、反射率 XRR 分析。
设备同时搭载 TWISTTUBE 技术,用户仅需 1 分钟即可完成线光源到点光源应用的切换,轻松覆盖常规粉末分析、薄膜表征、织构、应力、微区分析等多元场景,彻底告别光路互换、重复对光的繁琐操作,大幅提升设备使用效率。
2. 高精度测角仪,保障全谱数据可靠性
设备搭载 Theta/theta 立式测角仪,2Theta 角度覆盖 - 110° 至 168° 宽范围,角度精度可达 0.0001 度。布鲁克 AXS 可保证全谱范围内每一个衍射峰的测量峰位与标准峰位误差不超过 0.01 度,为物相精准鉴定、点阵参数精确测量、晶体结构精修等高精度分析需求提供稳定可靠的数据基础。
3. 旗舰级阵列探测器,效率与灵敏度双重提升
设备配备 LYNXEYE 系列阵列探测器,可大幅提升检测信号强度,显著提高设备使用效率与探测灵敏度。其中旗舰款 LYNXEYE XE-T 能量色散探测器,支持采集 0D、1D 和 2D 数据,适配从 Cr 到 Ag 的所有波长,能量分辨率优于 380 eV。
该探测器可在零强度损失下实现铁荧光的高效过滤,无需加装金属滤波片与二级单色器,避免数据出现残余 Kβ、吸收边等伪影,同时兼具高计数率与优异的角分辨率,是各类 X 射线衍射与散射应用的高适配性检测方案。
4. 动态光束优化,全角度数据质量均一稳定
布鲁克独有的动态光束优化(DBO)功能,通过马达驱动发散狭缝、防散射屏与可变探测器窗口的自动同步,尤其在低 2θ 角度区间可提供出众的数据质量。该功能全系列适配 LYNXEYE 探测器,为低角度介孔材料测量、小角散射等特殊应用提供稳定的检测表现。
四、覆盖 15 + 分析场景,适配全类型样品
依托 DIFFRAC.SUITE 与 TOPAS 软件平台,D8 ADVANCE 可实现多维度的材料分析能力,核心应用包括:
- 常规粉末分析:物相定性 / 定量分析、结晶度及非晶相含量测定、无标样定量、结构精修与解析、点阵参数精确测量、微观应变与晶粒尺寸分析
- 高级结构分析:织构及 ODF 分析、残余应力检测、对分布函数(PDF)分析、小角散射、原位动态过程分析
- 薄膜与涂层分析:掠入射衍射、X 射线反射法、高分辨率 X 射线衍射、倒易空间扫描,支持纳米级至微米级厚度薄膜的相鉴定、厚度测定、应变与组分分析
无论是粉末、块状、纤维、片材等常规样品,还是非晶、多晶、外延薄膜等特殊样品,D8 ADVANCE 均可提供高质量的分析结果,适配材料科学、化学、物理、地质、医药、半导体等多领域的研究与检测需求。
五、选择束蕴仪器,享受专业全流程服务
束蕴仪器(上海)有限公司作为布鲁克 AXS 相关产品的授权代理商,不仅为用户提供原厂正品的 D8 ADVANCE X 射线衍射仪,更配套专业的技术支持与售后服务,从设备选型、安装调试到操作培训、后期维护,全程为用户的检测工作保驾护航,助力科研机构与企业用户提升分析效率,加速技术研发与产品升级。
常见问题解答
Q1:布鲁克 D8 ADVANCE X 射线衍射仪主要适用于哪些行业与样品类型?
A:该设备广泛适用于高校、科研院所、新能源、半导体、冶金、地质、医药化工等行业,可检测粉末、块状、纤维、片材、薄膜(非晶、多晶、外延)等几乎所有类型的固体样品。
Q2:切换不同的检测应用时,需要人工调试光路吗?
A:不需要。设备搭载 TWIN-TWIN 光路系统,可在聚焦几何与平行光几何之间全自动切换,无需人工对光;搭配 TWISTTUBE 技术,线光源与点光源应用的切换仅需 1 分钟,大幅降低操作门槛与时间成本。
Q3:LYNXEYE XE-T 探测器相比传统探测器有什么优势?
A:LYNXEYE XE-T 是能量色散型阵列探测器,兼具 0D、1D、2D 数据采集能力,适配多种靶材波长;能量分辨率优异,可无损失过滤荧光信号,无需额外滤波片或单色器,避免数据伪影,同时拥有高计数率与出色的角分辨率,检测效率与灵敏度均有显著提升。
Q4:设备可以进行原位分析吗?
A:支持。D8 ADVANCE 可搭配对应原位附件,实现不同环境条件下的动态过程监测,满足材料相变、反应过程等动态研究需求。