在第四纪地质学与环境演变研究中，风成黄土、河流相砂、湖相沉积物和海岸沙丘的可靠定年是重建古气候与古环境变迁的基石；而在考古学中，陶片、烧土、石器表面受热事件年代的判定，直接关系文化层的年代框架。当碳十四测年超出有效范围（通常＞5万年）或样品有机质匮乏时，光释光（OSL）与热释光（TL）测年技术便成为不可替代的"时光标尺"。作为该技术的核心装备，释光测试仪的选型是否得当，直接决定实验数据的可信度与科研产出效率。一、看激发光源配置——石英与长石双矿物研究的刚需释光测年中，石英矿物...

在材料科学、化学、物理及地质等前沿科研领域，如何精准、高效地解析物质的晶体结构，一直是科学家们追求的目标。束蕴仪器（上海）有限公司，作为布鲁克AXS公司的优质合作伙伴，为您带来一款能够彻底改变实验体验的科研利器——布鲁克D8ADVANCEX射线衍射仪。它不仅是解码材料微观世界的“通用指纹识别器”，更是您科研道路上值得信赖的伙伴。颠覆性创新，让复杂变简单传统的X射线衍射仪在面对不同类型的样品和应用时，往往需要繁琐的光路切换和重新对光，耗时且易出错。布鲁克D8ADVANCE彻底颠...

在新材料研发、半导体制造、医药化工、地质矿产等众多领域，物相鉴定、晶体结构解析、薄膜性能表征是把控产品质量、推动技术突破的核心环节。作为材料表征领域的主流精密设备，X射线衍射仪凭借非破坏性、高精度的检测特性，已成为各大实验室与工业产线质检环节不可少的核心分析工具。一、什么是X射线衍射仪？X射线衍射仪（简称XRD）是利用X射线在晶体材料中产生的衍射效应，采集样品的衍射图谱，进而解析材料物相组成、晶体结构、晶粒尺寸、残余应力等微观信息的精密分析仪器。其核心原理基于布拉格衍射定律：...

布鲁克X射线部门朱性齐薄膜是器件的一种表现形式。多晶薄膜宏观应力的测试需求越来越多。下面总结了两种多晶薄膜的宏观应力测试方法。一、薄膜应力测试方法一通过掠入射X射线衍射(GID)的方法获得5个以上衍射峰的峰位置，然后以应变strain为纵轴，以sin2ψ为横轴，使用Leptos软件拟合后得到应力值。这种测试方法对仪器硬件的要求是可以满足GID测试即可（次级光路有一个赤道索拉+探测器具有0维模式即可满足，主光路使用发散狭缝或者Goebel镜均可）。以Fe基底上的TiCrN镀层为...

布鲁克X射线部门王金波时光倏忽，2026上半年已结束，2026年下半年曙光将至。回望来路，每一次突破皆如竹拔节；展望新程，更需“百尺竿头，更进一步”般的深耕探索。而三维X射线显微镜（XRM），正是助力科研人穿透表象、直抵重心，在微观世界再攀新高的硬核“攀登杖”。一、如竹之“透”：无损穿透，直抵重心竹质坚韧却透光见中空，XRM同样具备这般穿透之力。依托先进X射线成像技术，无需破坏即可穿透样品，直达微观中心，完整保留样品状态，精确支撑工业缺陷排查与科研精细观察。▲布鲁克XRM获取...

在半导体芯片的纳米级互连层中，在催化剂活性位点的原子排列中，在腐蚀防护涂层与基体金属的结合界面上，隐藏着决定材料性能的密码。传统分析技术往往受限于探测深度，难以触及这些至关重要的表层信息。此时，俄歇电子能谱仪便以其表层灵敏度和元素识别能力，成为材料科学家探索表面微观世界的“原子探针”。什么是俄歇电子能谱仪？俄歇电子能谱仪是一种基于俄歇效应的表面分析技术。当入射电子束轰击样品表面时，内层电子被激发形成空穴，外层电子跃迁填补空穴并释放出多余能量，这部分能量促使第二个外层电子电离发...

随着新材料研发、半导体制程升级、生物医药研究向分子级纵深推进，样品表面与界面的成分、结构表征逐渐成为技术突破的核心环节。在众多表面分析技术中，飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）凭借超高灵敏度、纳米级空间分辨率与三维分析能力，成为微观表征领域的核心设备，广泛应用于科研与工业检测场景。一、什么是TOF-SIMS质谱仪TOF-SIMS全称为飞行时间二次离子质谱仪（Time-of-FlightSecondaryIonMassSpectrometry），是一种高分辨的表面分析技...

在半导体与材料科学的精密世界里，有一项技术如同“元素侦Tan”，能够捕捉到材料中亿分之一级别的痕量元素——这就是动态二次离子质谱仪（D-SIMS）。今天，让我们一同走进这项尖端技术，并了解束蕴仪器（上海）有限公司如何将其引入中国市场，助力国内科研与产业发展。什么是动态二次离子质谱仪？动态二次离子质谱仪（DynamicSecondaryIonMassSpectrometry，简称D-SIMS）是一种用于固体材料成分分析的高灵敏度表面分析技术。它通过对材料表面进行逐层剥离并实时分...