在半导体产业的精密制造链条中，晶圆检测是保障芯片良率的关键环节。随着芯片制程不断向7nm及以下突破，对检测技术的精度、效率提出了严苛要求。目前行业内主流的晶圆检测技术——光学检测、电子束检测及原子力显微镜检测，凭借各自技术原理，在不同检测场景中发挥着重要的作用，共同构筑起晶圆质量的“防护网”。光学检测技术以“光的传播与交互”为核心原理，是晶圆检测中应用广泛的基础技术。其本质是通过高分辨率光学系统向晶圆表面发射特定波长的光束，利用光的反射、折射、散射及干涉特性捕捉晶圆信息。当光...

在材料科学、化学、制药、地质、新能源等前沿领域，深入理解物质的微观晶体结构是推动研发、控制品质、发现新知的核心。粉末X射线衍射仪，正是开启这扇微观世界大门的金钥匙。它通过分析材料对X射线的衍射图谱，非破坏性地揭示物质的晶体结构、物相组成、结晶度、晶粒尺寸、应力状态等关键信息，是科研与工业领域的精密分析工具。一、核心原理：一束X光，解开微观世界的密码当一束单色X射线照射到粉末样品上时，样品中无数随机取向的微小晶体会在各个方向上产生衍射。通过探测和记录这些衍射X射线的方向（角度）...

在半导体、材料科学等前沿领域的微观表征中，高分辨X射线显微镜凭借其穿透性强、无损检测的优势，成为解析微观结构的核心设备。空间分辨率、衬度灵敏度及成像视野作为衡量其性能的三大核心指标，直接决定检测数据的精准度与应用价值。这些指标的表现并非孤立存在，而是受X射线源特性、光学系统设计、探测器性能等多重因素协同影响，深入理解其关联机制是精准选型与高效应用的关键。空间分辨率作为表征设备“看清微观细节”能力的核心，主要受X射线源波长与光学系统聚焦能力主导。根据衍射极限原理，X射线波长越短...

Lexsyg仪器助力解开西班牙千年古迹年代之谜！SantalladeBóveda建筑年代终揭晓【研究背景】西班牙卢戈省的SantalladeBóveda纪念碑因其神秘的罗马风格壁画与建筑结构，近百年来引发学界对其年代与功能的激烈争论。近期，国际研究团队通过lexsygresearch等端仪器，实现了对建筑灰烬与砖块的解开测年，研究成果发表于国际有名期刊。【技术突破】研究团队创新性采用光释光（OSL）、热释光（TL）与碳14测年技术联用方案：1、通过lexsygresearch...

晶体结构决定材料的物理化学性能，D8X射线衍射仪作为核心分析设备，凭借“高分辨率衍射+多功能分析”优势，精准测定晶体的物相组成、晶格参数、结晶度等关键信息，广泛应用于材料研发、地质勘探、医药研发等领域，成为解码晶体结构的工具。传统X射线衍射仪存在分辨率低、扫描速度慢等问题，难以满足复杂晶体结构的分析需求。D8X射线衍射仪采用“高精度测角仪+智能X射线光学系统”架构，实现性能突破：测角仪精度达0.0001°，确保衍射峰定位精准；配备多层膜单色器与聚焦镜，有效过滤杂散射线，提升衍...

在材料科学、医药研发、地质勘探等领域，物质的晶体结构与物相组成是揭示其性能本质的核心。粉末衍射仪凭借对晶体结构的精准分析能力，成为科研突破与产业升级的关键设备。束蕴仪器深耕分析仪器领域多年，自主研发的粉末衍射仪以“高分辨率、高稳定性、高适配性”三大优势，为全球用户提供从基础科研到工业检测的全场景解决方案，成为行业内的主要产品。高分辨率是粉末衍射仪的核心竞争力，也是束蕴仪器的技术突破点。传统设备在分析复杂物相时，常因衍射峰重叠导致数据失真，而束蕴粉末衍射仪搭载进口Cu靶X光管与...

在材料科学与工程领域，表界面的微观世界藏着决定产品性能的关键密码。从半导体芯片的界面结合强度，到锂电材料的SEI膜稳定性，再到航空涂层的腐蚀防护机制，精准捕捉表界面的元素组成、化学态及深度分布，是科研突破与产业升级的核心前提。然而传统分析手段常陷入“要么看不清微区细节，要么分不清化学态，要么测不准深度分布”的困境，表界面分析的盲区成为阻碍研发效率的“拦路虎”。束蕴仪器（上海）有限公司深耕表面分析仪器领域多年，凭借对行业痛点的深刻洞察，推出高性能俄歇电子能谱仪（AES），以“化...

布鲁克X射线部门王金波碳纤维增强复合材料（CFRP）因其兼具高抗拉强度、高刚性和轻量化特性，作为下一代技术和产业的关键材料正受到普遍关注。一、CFRP力学性能的影响因素CFRP的力学性能受多种因素明显影响：1）碳纤维的取向和密度会直接作用于其性能表现。2）内部空隙和缺陷的存在也会产生重要影响。3）深入了解这些内部结构，是准确评估CFRP强度并优化其设计的关键。二、内部结构分析的挑战与需求分析CFRP内部结构需要能够分辨出小到微米设置是亚微米的间隙。1）传统破坏性方法需切割样品...