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  • 202511-19
    闪烁体研发避坑指南:lexsyg RL测试揭示BiPO₄:Ce的致命缺陷

    近期,克莱姆森大学研究团队在《JournalofLuminescence》发表重要成果,通过FreibergInstrumentsLexsygResearch释光光谱仪等先进设备,系统阐明了六方相BiPO₄的复杂发光机制,解决了该材料长期存在的学术争议。研究中,lexsygResearch释光荧光光谱仪在揭示关键发光现象中发挥了不可替代的作用。重要发现:五重发光之谜终解开研究团队通过精确调控激发波长(250–460nm),结合lexsyg荧光光谱仪的高灵敏度RL(辐射发光)测...

  • 202511-17
    【揭秘】从粉末到真相:粉末衍射仪的物质分析核心逻辑

    在材料科学、制药、地质勘探等领域,揭开物质的微观结构始终是研究的核心目标。粉末衍射仪作为一种非破坏性分析工具,凭借其原理与方法,成为解析晶体物质奥秘的关键桥梁。下面将深入探讨衍射仪从样品制备到数据解读的完整分析逻辑。一、原理基石:X射线与晶体的“对话”衍射仪的核心原理如下。当单色X射线照射到粉末样品时,晶体中规则排列的原子面会反射X射线,并在特定角度产生干涉增强的衍射峰。这些衍射峰的位置和强度直接关联晶面间距(d)与晶体对称性,形成“结构指纹”。通过测角仪精确控制入射角并配合...

  • 202511-16
    直接捕捉未成对电子:电子顺磁共振波谱仪的优势

    在材料科学、化学和生命科学领域,许多关键的物理过程、化学反应和生物功能都与未成对电子密切相关。电子顺磁共振波谱仪是一种能够直接、专一地检测和表征含有未成对电子的顺磁性物质的分析技术。它是揭示自由基、过渡金属离子、点缺陷等顺磁中心结构与动态信息的工具。EPR技术的物理基础是顺磁性物质中的未成对电子在外部静磁场作用下发生能级分裂(塞曼效应),并吸收特定频率的微波能量发生能级跃迁。通过扫描磁场并检测微波吸收信号,EPR波谱仪可以获得丰富的结构信息和动态信息。这种对未成对电子的直接探...

  • 202511-14
    物质结构的黄金标准:布鲁克X射线衍射仪的性能

    在材料表征领域,确定物质的晶体结构是理解其物理化学性质的基础。X射线衍射(XRD)技术是进行物相鉴定、晶体结构解析的“黄金标准”。而布鲁克X射线衍射仪以其分辨率、稳定的性能和强大的软件分析平台,为材料、化学、地质、制药等众多学科的研究与质量控制提供了可靠的数据支撑。XRD技术基于布拉格定律,当X射线照射到晶体样品时,会产生具有特定规律的衍射花样。通过对衍射花样的角度和强度进行测量,可以像“解码”一样获得物质的晶体结构信息,包括:1、物相鉴定:通过与标准粉末衍射数据库(如ICD...

  • 202511-12
    应用分享 - 用于电池界面的冷冻X射线光电子能谱

    理解原始界面的化学环境是电化学、材料科学和表面科学领域长期追求的目标。电极-电解质界面(SEI)被认为是锂离子电池和锂金属电池中重要的固体界面。目前,我们对SEI化学状态的理解主要基于室温(RT)和超高真空(UHV)条件下的X射线光电子能谱(RT-XPS)。然而,在室温与超高真空条件下,SEI会因反应与挥发发生明显演化:(1)在室温下,自发的分解和生长反应会改变SEI的组成,如LiF、Li₂O和Li₃N等物种的相对含量会随时间增加而不断变化;(2)在超高真空环境中,SEI组分...

  • 202511-12
    Lexsyg多谱段材料探测实录之- 柔性X射线传感器材料

    Lexsyg释光探测器|从紫外到X射线研究背景在医疗诊断、安检成像等X射线检测领域,高性能闪烁体材料是重要元件。传统无机晶体虽性能优异,但存在成本高、加工难等问题。近期,巴西圣卡洛斯物理研究所联合多国团队,在《FluorophosphateglassesdopedwithEu³⁺和Dy³⁺》研究中取得突破,开发出新型氟磷酸盐玻璃闪烁体,兼具高密度、长发光寿命与优异X射线响应特性,为低成本、可定制化辐射探测开辟新方向。重要发现Part.1材料设计创新团队采用熔融淬火技术,成功制...

  • 202511-10
    光电子能谱仪的核心技术参数有哪些?

    在材料表面分析领域,光电子能谱仪(XPS)凭借“表面灵敏、元素精准、化学态解析”的核心优势,成为半导体、新能源、催化材料等行业的表面探针。它能实现从元素定性定量分析到化学价态识别的全维度检测,而设备的性能,始终依赖于一系列核心技术参数的精准把控。这些参数不仅决定了分析结果的可靠性,更直接影响着科研与生产中的应用边界。​能量分辨率是光电子能谱仪的核心生命线,直接决定化学态解析的精度。其定义为探测光电子能量的最小分辨能力,通常以C1s光电子峰的半高宽为衡量标准。主流商用设备的能量...

  • 202511-6
    洞察材料本源:晶圆片晶锭寿命检测仪的核心作用

    半导体器件的性能与可靠性,从根本上取决于其基底材料——半导体晶锭(以及由其切割而成的晶圆)的本征质量。其中,少数载流子寿命是衡量半导体材料质量的一个关键体参数,它直接影响着器件(如功率IGBT、光伏电池、探测器)的开关速度、能耗效率与稳定性。晶圆片晶锭寿命检测仪正是专门用于非接触、无损测量半导体材料中少数载流子寿命的精密仪器,它从材料源头进行质量筛查,是保障半导体器件性能的“本源守护者”。该检测仪的主流技术为微波光电导衰减法。其原理是:使用脉冲激光(或闪光)照射半导体样品(晶...

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