质量分析器是质谱仪的重要部件，位于离子源和检测器之间，其功能是将离子源中产生的样品离子按质荷比（m/z）进行分离。三重聚焦飞行时间质量分析器(TRIpleFocusingTimeofflight,简称TRIFT)是ULVAC-PHI的TOF质量分析器。自1988年搭载TRIFT质量分析器的TOF-SIMS设备商用以来，ULVAC-PHI已将其应用于多代TOF-SIMS产品中。经过三十多年的持续优化与迭代，TRIFT凭借其宽通能、高景深和较大二次离子接收角等独特设计，已成为目前...

Lexsyg释光探测器|从紫外到X射线随着紫外线（UV）辐射对人体健康的影响日益受到关注，开发高灵敏度的紫外线剂量材料成为科研热点。近期，拉脱维亚大学研究团队在《AlN+Y₂O₃陶瓷对太阳光与X射线辐照的热释光响应》研究中取得重要进展，揭示了氮化铝（AlN）陶瓷在紫外线剂量测定中的潜力，而实验的关键数据正是通过FreibergInstruments的lexsygresearchTL/OSLReader精确获取。研究背景AlN陶瓷因宽禁带特性、高热释光（TL）响应及与人体皮肤相...

在现代科学研究与工业生产中，X射线衍射（XRD）技术帮助人类洞察物质内部的原子排列规律。作为材料表征领域的核心装备，xrd衍射系统通过精准捕捉X射线与晶体相互作用产生的衍射信号，为科研人员提供关键的结构信息。下面将深入解析其基本构成及重要作用，展现这项技术的非凡魅力。一、基本构成：精密协作的四大模块1、X射线源：这是系统的“心脏”，通常采用铜靶或钼靶作为阳极材料，当高速电子轰击金属靶材时，会产生特定波长的特征X射线。这些电磁波具有与晶体晶格相匹配的波长范围，是引发衍射现象的基...

在TOF-SIMS数据的解析过程中，通常需要将实测二次离子的质荷比与标准数据库中记录的原子离子或分子离子的精确质量数进行比对，以确定二次离子所对应的元素或分子结构。因此，准确的质量校准是TOF-SIMS数据处理中至关重要的一步。本期技术文章将介绍如何正确进行TOF-SIMS数据的质量校准。一、TOF-SIMS质量校准原理在TOF-SIMS分析中，质谱仪记录的原始信号为二次离子到达探测器所用的飞行时间及其信号强度。二次离子的质荷比是根据其飞行时间计算得出的。这一转换过程通常由采...

Lexsyg释光探测器|在考古测年领域应用分享文章来源:https://doi.org/10.1111/arcm.12435引言近日，德国科隆大学联合考古团队在BergischGladbach森林中发现了一处古罗马石灰窑遗址，在罗马帝国边境外的“大日耳曼尼亚”地区确认了罗马时期的石灰生产活动。这项研究结合热释光（TL）与后红外激发释光（pIRIR）技术，成功揭示了窑炉的结果使用年代，相关成果发表于国际有名期刊。突破性测年技术：TL与pIRIR双剑合璧研究团队从窑壁、周边沉积物...

在材料科学的领域，我们一直在追寻一双更锐利的“眼睛”，以期窥见构成万物的原子与分子的真实面貌。然而，真正的挑战在于，原子世界并非一幅静止的画卷。原子始终在它们平衡位置附近进行着微小的、快速的​​热振动​​，这种“细微颤动”是理解材料性能的关键。如今，高分辨率X射线衍射仪（HRXRD）的突破性发展，正让我们得以“看清”这激动人心的动态图景，将材料研究从静态结构解析推向动态行为探测的全新高度。​​一、从“静态快照”到“动态影像”的飞跃​​传统的X射线衍射技术能够为我们提供材料晶体...

在当今科技迅猛发展的时代，对于物质内部结构的精准探索已成为众多领域突破的关键。三维重构成像X射线显微镜作为一种先进的科学仪器，正以其优势为我们打开了一扇通向微观世界的新大门。该设备利用X射线穿透性强的特点，能够对各种样品进行非破坏性的内部扫描。通过采集不同角度下的投影数据，并运用复杂的算法进行重建，它可以生成高分辨率的三维图像，清晰地展现出物体内部的精细结构。无论是金属材料中的晶粒分布、复合材料中的界面结合情况，还是生物组织内的细胞形态与排列方式，都能被准确地呈现出来。在材料...

随着科学技术的进步，人们对微观世界的探索需求日益增长。X射线三维显微镜作为一种分析工具，以其成像能力和广泛的应用范围，成为了科研人员手中的一把利器。这款显微镜采用了先进的X射线源和探测器组合，能够产生高质量的三维图像。与传统光学显微镜相比，它具有更深的景深和更高的对比度，使得即使是微小的细节也能清晰可见。更重要的是，由于X射线具有较强的穿透能力，因此它可以透过不透明的样品表面，直接观察到内部的组织结构。在生命科学领域，X射线三维显微镜的应用尤为突出。它可以用于研究动植物组织的...