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  • 20268-18
    光电子能谱仪选型指南:2026材料表面分析与半导体检测优选方案

    在半导体材料、催化科学、能源器件、薄膜技术及失效分析等前沿领域,材料的表面化学组成与电子态结构直接决定了其性能表现。光电子能谱仪(XPS/ESCA),作为能够同时提供表面元素组成、化学状态和电子结构信息的分析工具,被誉为“材料表面分析的眼睛”。2026年,随着半导体行业、新能源材料和先进涂层技术的快速发展,光电子能谱仪已成为研发与质控实验室的核心表面分析装备。本文将为您系统解析光电子能谱仪的技术原理、主流类型与选型关键要素。一、光电子能谱仪的工作原理与核心信息光电子能谱仪(X...

  • 20268-18
    束蕴仪器D8 DISCOVER高分辨衍射仪解析

    一、薄膜材料分析推动XRD技术升级随着半导体、光电显示、新能源电池等产业的快速发展,薄膜材料的研发与质量控制已成为材料科学的重要方向。薄膜材料的性能高度依赖于其晶体结构、取向、应力状态及界面特性,而这些参数的精确表征离不开高分辨X射线衍射技术。在薄膜分析中,常规XRD测试面临一个现实挑战:X射线的穿透深度一般在几微米到几十微米,远大于薄膜厚度,导致薄膜信号易受衬底影响。掠入射XRD(GID)技术通过使X射线以很小的入射角照射样品,有效减小穿透深度,成为研究多晶薄膜的常用方法。...

  • 20268-10
    辨晶格之微,识物相之本——XRD衍射系统,开启材料晶体结构的“微观之眼”

    在材料科学与工程的世界里,物质的宏观性能——强度、导电性、光学响应、催化活性——无一不被其微观晶体结构所深刻支配。同样的化学成分,因原子排列方式的不同(如石墨与金刚石),可以呈现天壤之别的物理与化学特性。如何“看见”原子在空间中的周期性排列,如何精准识别多相混合物的相组成,如何定量分析晶格常数、晶粒尺寸与残余应力?XRD衍射系统正是这一领域最核心、最有力的分析工具。它以X射线为“探针”,探测材料内部原子晶面的间距与排布,成为材料研发与质量控制领域的“微观之眼”。测量原理:布拉...

  • 20268-4
    多尺度三维X射线显微成像技术在金属增材制造领域应用介绍

    XRM应用分享布鲁克X射线部门王金波金属增材制造(LPBF/EBM/DED等)依托逐层熔凝实现复杂轻量化结构、随形冷却流道、点阵结构一体化制造,广泛应用航空航天、能源、医疗植入件、高级装备。但工艺稳定性差、内部缺陷隐蔽、质量一致性不足、缺少可靠微观无损表征手段,长期制约批量工业化落地。三维X射线显微镜(XRM)基于X射线断层扫描重构,实现微米/亚微米级、非破坏、全三维内部结构可视化与定量测量,贯穿粉末原材料评价→工艺开发→成品质检→失效分析全链条,针对性解决行业主要痛点。1)...

  • 20268-3
    释光测试仪选购指南:核心问题与专业解答

    释光测试仪是辐射剂量学和考古测年领域的关键设备,其核心功能是测量矿物晶体(如石英、长石)在受热或受光激发时释放的累积辐射能量。该技术广泛应用于考古学中的陶瓷/石器烧制年代测定、地质学中的沉积物埋藏年龄研究,以及辐射剂量监测中的事故剂量重建等场景。面对不同类型与配置的释光测试系统,如何依据科研或应用需求做出合理选择?本文以问答形式梳理要点,供您参考。问题一:释光测试仪的主要类型及其应用场景?释光测试仪根据激发方式主要分为两类:热释光(TL)测试仪:通过程序升温(通常从室温至50...

  • 20267-29
    APEX6随写-Scale的基本理论和常见的误解

    应用分享-晶体日记(三十一)布鲁克X射线部门张振义上期梳理了Integration(积分处理)相关内容,顺着流程往下,就到Scale(标度校正)部分。Integration涵盖图像处理与物理校正(LP校正)整套流程,重心是将肉眼可见的衍射图谱转化为数字化原始数据;根据待解决问题的不同,可输出.raw、.mul、.ram等格式原始文件。依托软件界面实时反馈的处理进程,能直观判断积分效果优劣。原则上无明显缺陷的数据集,经Integration积分后,就能得到晶体结构解析所需的衍射...

  • 20267-29
    软包电池XRD变温原位检测与分析

    应用分享-XRD模拟工况布鲁克X射线部门孟璐在过去的二十年里,使用可充电锂离子电池的微电子设备变得越来越普遍。随着使用范围的扩大,对锂离子电池的可靠性、功率密度和工作条件的要求也越来越高。为了实现可靠性和一致的功率密度,制造商对生产过程中使用的原材料有适当的质量控制指标至关重要。定量相分析(QPA)提供了阴极材料相组成的完整图像——DIFFRAC.EVA和DIFFRAC.TOPAS为此提供了一个完整的解决方案,既易于使用,又可以集成到自动工作流程中。了解微观结构对于制造机械稳...

  • 20267-27
    二次离子质谱仪:逐层剥离,洞悉材料表面的“元素指纹”

    在现代制造的微观世界里,真正决定产品性能的,往往不是材料的整体成分,而是其最表层几十纳米内的元素分布与掺杂状态。无论是半导体芯片的掺杂剖面、光伏电池的多层薄膜界面,还是航天材料的氧化腐蚀层,都需要一种能够“看见”微量元素且具有高纵向分辨率的检测手段。二次离子质谱仪(SIMS),正是这样一种被誉为材料表面分析“探针”的设备——它通过高能离子束轰击样品表面,将逸出的二次离子送入质谱分析器,以ppm甚至ppb级的灵敏度,逐层解析材料的元素构成,为前沿科研与精密制造揭开微观世界的真相...

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