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产品中心少子寿命测试仪（MDP）MDpicts pro 原位变温缺陷能级表征系统
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MDpicts pro高分辨率变温少子寿命测试仪，系统能够适用于各种不同材料和制备阶段的测量，范围从硅原料、裸晶圆到不同的制备阶段，再到HgCdTe、CZT、InSb、HgCdSe、CdTe、GaAs、InP等化合物半导体，可以研究电阻率高于0.3 Ω cm的单晶硅和多晶硅。
更新时间：2026-03-16
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浏览量：7
MDpicts pro 原位变温缺陷能级表征系统，优点是非接触式，是一种对待测样品无损伤和非破坏式的检测手段，采用微波谐振微波腔来接收信号。由缺陷捕获载流子的再发射引起的光电导率的变化可以通过微波吸收来检测。MDPicts pro已成功用于分析各种具有半绝缘行为的化合物半导体。
更新时间：2026-03-16产品型号：浏览量：8
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