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产品中心少子寿命测试仪（MDP）HT picts高温少子寿命测量系统
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HT picts高温少子寿命测量系统，用于宽禁带材料在高温区间的非接触、无损伤的温度依赖型测量，涵盖少子寿命、电学特性表征及深能级缺陷研究。（涵盖瞬态模式μPCD、稳态模式MDP、微波光电导等方法，符合SEMI PV9-1110 半导体标准）。
更新时间：2026-03-16
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