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产品中心少子寿命测试仪（MDP）MD picts温度依赖型寿命测试系统
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MD picts温度依赖型寿命测试系统，可检测电阻率高于 0.3 Ω cm的单晶硅与多晶硅，重要聚焦缺陷、少子寿命及光电导的温度依赖型测量，同时可检测硅中的污染物及电活性晶体中的缺陷，具备微波光电导衰减瞬态（μPCD）和稳态（MDP）测量功能。
更新时间：2026-03-16
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