摩擦副之间的相对运动必然会产生摩擦和磨损，全球约80%的机械零件失效都是由摩擦磨损造成的。此外，地球上每年近三分之一的一次能源消耗被用来克服各种系统和设备的摩擦，这不仅造成了大量的能量损失，而且限制了能源效率的优化。因此，系统深入地研究材料摩擦过程中在表面、界面所发生的化学反应，从微观或分子、原子水平上认识材料有效和失效的机理，继而指导设计制备具有优异摩擦学特性的材料，对于节约能源、提高机械装置使用寿命以及减少环境污染具有重要意义。XPS作为表面化学分析有效的技术之一，在摩擦...

自旋共振波谱仪是一种用于研究物质中未成对电子的磁性和能级结构的分析技术。提升其灵敏度对于检测低浓度样品、提高分辨率以及获取更精确的数据至关重要。以下是关于如何提升自旋共振波谱仪灵敏度的详细描述：1.优化微波源与腔体设计-增强微波功率：增加微波源的输出功率可以提高信号强度，从而提升灵敏度。但需注意避免过高功率导致样品过热或饱和效应。-改进谐振腔设计：通过优化腔体的形状和尺寸，可以改善微波场分布，减少能量损失，并提高样品区域内的磁场均匀性。例如，采用高Q值的材料制作腔体，或者使用...

在科学探索的征程中，X射线显微成像系统宛如一把神奇的钥匙，开启了微观世界的大门，让我们得以一窥物质内部的奥秘。显微成像系统基于X射线与物质的相互作用。X射线具有高能量、短波长的特性，当它穿透样品时，会因样品内部不同结构对X射线吸收、散射等程度的差异而产生不同的信号。这些信号被探测器接收并转化为图像信息，从而呈现出样品内部微观结构的清晰图像。X射线显微成像系统在众多领域发挥着不可替代的作用。在材料科学领域，它能够深入材料内部，观察材料的微观结构缺陷、晶体结构等。例如，在研究新型...

应用背景该文章翻译于FraunhoferCSP和DiagnosticsａndMetrologySolarCellsdivision等机构共同研究的工作。电势诱导衰减（PID效应）普遍存在于晶体硅太阳能电池中，通常是由钠离子产生分流效应引起的，传统太阳能电池已经开发出标准的PID测试条件。利用FreiburgInstruments开发的PIDcon设备，我们研究了标准化PID测试程序是否适用于各种结构和成分的钙钛矿太阳能电池，结果发现尽管钙钛矿材料与硅基电池结构有明显差异，但P...

在当今科技飞速发展的时代，CT-半导体元器件犹如一颗颗微小却无比强大的明珠，镶嵌在各种电子设备之中，成为现代科技的基石。CT-半导体元器件的核心在于其独特的导电特性。半导体的导电能力介于导体和绝缘体之间，这一特性使得人们可以通过精确的控制手段，如掺杂杂质原子等方法，来改变其电学性能。例如，在硅晶体中掺入磷原子就会产生多余的电子，形成N型半导体;而掺入硼原子则会产生空穴，成为P型半导体。这种对材料电学性质的精准调控为制造各种功能各异的半导体元器件奠定了基础。晶体管是最具代表性的...

在工程力学和材料科学领域，对材料的内部结构和力学行为的深入研究至关重要。这不仅关系到材料的应用性能，还直接影响到工程安全和效率。目前，我们要介绍的是Skyscan2214和MTS（材料力学试验机）这一对在力学研究中不能缺少的黄金搭档。Skyscan2214：高分辨率X射线成像系统Skyscan2214是由Bruker公司生产的高分辨率X射线成像系统，它在材料内部结构研究中扮演着重要角色。以下是Skyscan2214的一些关键特性和应用：1.高分辨率成像能力Skyscan221...

掠入射衍射介绍掠入射衍射（GID,Grazingincidencediffraction）是研究多晶薄膜的一种常用方法。薄膜样品在Bragg-Brentano对称衍射中通常表现出非常微弱的衍射信号，原因在于X射线可穿透薄膜照射到底层衬底，由于衬底其较大的散射体积，导致其衍射信号在终端信号中占据主导地位。然而，如果不是BB几何的发散光路，而是一束细的平行光束照向样品表面，这样它只穿透薄膜而不穿透下方的衬底材料，那么来自薄膜的衍射信号则会成为主导。通过优化平行光束的入射角度，可以...

在现代半导体制造业中，对晶圆片表面质量的精确检测是至关重要的。晶圆片在线面扫检测仪作为一种先进的检测设备，因其能够实时监控晶圆片表面的微小缺陷，被广泛应用于半导体生产线上。晶圆片在线面扫检测仪的设计充分考虑了高效检测的需求。它通常由一个高速扫描系统和一个高分辨率成像系统组成，能够在晶圆片传输过程中实时捕捉表面图像，并通过图像处理算法自动识别和分类各种缺陷。这种设计不仅能够提高生产效率，还能够显著降低因缺陷导致的产品报废率。晶圆片在线面扫检测仪还具备多种高级功能，以满足不同的应...