许多寿命测量方法，如QSSPC、μPCD或CDI，以及MDP在极低的注入浓度下都存在异常高的测量寿命。这种效应是由于样品中的捕获中心造成的。这些捕获中心对于了解材料中载流子的行为非常重要，并且也会对太阳能电池产生影响。因此，需要以高分辨率来测量缺陷密度和这些缺陷中心的活化能。借助MDPmap和MDPingot，可以通过一次测量来测量光电导率以及少数载流子寿命，并在宽注入范围内实现全自动测量。巧妙的算法可以确定样品中的缺陷浓度。根据注入相关寿命曲线，可以确定低注入下的寿命τLL...

锂离子电池，由于其具有高能量密度和体积能量密度，循环寿命长，无记忆效应等优点，越来越受到市场和消费者的青睐，这也推动了锂离子电池的快速发展和针对其研究的不断深入。XRM凭借着其能在无损情况下表征样品真实三维结构的特点，在近些年逐渐成为锂电池研究中的重要表征手段之一，且应用范围也在不断扩展。实例一软包电池多尺度表征BrukerSkyscan2214样品整体扫描，11um局部高分辨扫描，正极，1um局部高分辨扫描，隔膜，0.15um电池正极颗粒粒径分布（左图）及孔径分布（右图）实...

药物大部分以晶体的形式存在，利用X射线衍射，我们可以获得每种不同的晶型的药物特征的衍射信息。如同指纹一样，在数据库中每种晶型都有特征的衍射图谱。即使对于含有多成分的固体制剂而言，其中原料药与辅料各自对应的粉末X射线衍射图谱不会发生变化，可作为药物晶型定性判断的依据。因而对于未知的药物样品，通过PXRD，我们可以很快通过比对实测图中的衍射峰的位置，强度，从已有数据库中查到原料药的晶体结构相匹配的衍射图谱，从而准确鉴定该药物的晶型。PXRD对于药物晶型的定性研究主要分为两个方面：...

局域结构是指构成材料的原子或离子在几个晶胞尺度范围内（具体来说，使用X射线等探针对目标样品进行散射实验后，获得的信号强度I随Q的分布函数I（Q）（Q=4πsinθ/λ）中同时包含了相干散射、非相干散射以及背景信号，扣除背景后按照下式进行处理从而获得全散射函数S(Q)：而后，对S(Q)-1以Q为权重处理后（即Q[S(Q)-1]，也被称作F(Q)），再进行傅里叶变换，即可得到对分布函数G(r)：对于不同结构的材料，其原子对的分布规律也各不相同，图1展示了立方堆积和六方堆积的G(r...

1925年PierreAuger在威尔逊云室中发现了俄歇电子，并进行了理论解释，俄歇电子以他的名字命名。1953年，JamesJosephLander使用了电子束激发俄歇电子能谱，并探讨了俄歇效应应用于表面分析的可能性。1967年LarryHarris提出了微分处理来增强AES谱图信号。美国明尼苏达大学的RolandWeber,PaulPalmberg和他们的导师BillPeria进行的研究揭示了俄歇电子能谱的表面灵敏特性，研制了早期商用俄歇表面分析仪器（如图1所示），并基于...

晶圆片在线面扫检测仪是一种用于半导体行业的高精度设备，通过实时检测和分析晶圆片表面的缺陷和污染物，提高半导体生产质量。作为半导体制造过程的重要环节，在线面扫检测仪能够提供高效、准确的检测和分析，帮助半导体工厂及时发现和解决潜在问题，保证产品质量和可靠性。该在线面扫检测仪利用高分辨率的光学传感器和图像处理技术，能够对晶圆片表面进行快速、全面的检测。它能够检测并分类各种缺陷和污染物，如划痕、斑点、气泡、污染和裂纹等，提供精确的位置和尺寸信息。通过分析采集到的图像和数据，在线面扫检...

高分辨率X射线衍射(HRXRD)是一种强大的无损检测方法，其研究对象主要是单晶材料、单晶外延薄膜材料以及各种低维半导体异质结构。普遍用于单晶质量、外延薄膜的厚度、组分、晶胞参数、缺陷、失配、弛豫、应力等结构参数的测试。现代HRXRD与常规XRD的区别主要体现在：（1）高度平行且高度单色的高质量X射线；（2）不仅要测试倒易格点的位置（角度），还要测试倒易格点的形状（缺陷）；（3）更高的理论要求-动力学理论。GaN做第三代半导体，目前用于电力电子、高频器件和发光二极管(LED)技...

由于X射线可以对样品进行无损的检测，现代的X射线衍射仪可以对药物样品进行普遍的原位分析。比如不同温度下，不同湿度，不同压力下的晶型的变化。这些原位的研究方法不仅可以分析药物晶型的稳定性，还可以为发现新晶型提供新的研究思路和方法。图1不同温度下的晶型衍射图谱变化（Storey,PfizerGlobalR&D(2003)随着药物晶型监管力度逐步增加，单纯的定性分析原料药API或制剂中的晶型已不能满足质量研究的要求，对药物制剂中的有效晶型的定量分析，是药物生产中质量控制过程中非常重...