MDPlinescan在线少子寿命测试仪灵活的OEM少子寿命测试仪器，用于各种不同样品的少子寿命测量，从单晶硅砖到多晶硅砖，从生长的硅片到不同层或金属化的硅片的过程控制。标准的软件接口，便于连接到许多处理或自动化系统。

MDPmap被设计成一个紧凑的台式非接触电学表征工具，用于离线生产控制或研发，在稳态或短脉冲激励（μ-PCD）下，在一个宽的注入范围内测量参数，如载流子寿命、光导率、电阻率和缺陷信息。自动化的样品识别和参数设置允许轻松适应各种不同的样品，包括外延层和经过不同制备阶段的晶圆，从原生晶圆到高达95%的金属化晶圆。

弗莱贝格的MDPpro（MDPpro晶圆片/晶锭寿命检测仪--少子寿命）系列主要用于测量少子寿命、光电导率、电阻率和样品平整度及p/n检查等，其非接触式检测和无损成像（μPCD /MDP（QSS））的设计*符合SEMI标准PV9-1110。这也使得该仪器在晶圆切割、炉内监控和材料优化等领域被广泛应用。可以说，MDPpro是晶锭生产商以及晶体炉技术生产商d的标准仪器。

MDPmap（MDPmap晶圆片寿命检测仪--少子寿命测试）是一个紧凑的离线台式检测设备，主要被设计用于生产控制或研发、测量少子寿命、光电导率、电阻率和缺陷信息等参数。其工作状态为稳态或短脉冲激励下（μ-PCD）。

德国弗莱贝格MDPinlinescan（MDP在线晶圆片/晶锭点扫或面扫检测仪）是一款灵活的OEM设备，可以用于多种不同样品的在线寿命测量：从单晶到多晶硅锭，从生成态晶圆片到不同镀层或金属化晶圆的过程控制。配置标准软件接口，易于连接到许多处理或自动化系统。

MDPinline（MDP高速晶圆片在线面检测仪--少子寿命检测）是一种用于快速定量测量载流子寿命并集成扫描功能的检测仪。通过工厂安装的传送带将晶圆片移至仪器，在不到一秒的时间内，就可以“动态”测量出晶圆图。该仪器可为每个晶圆片提供完整的拓扑结构，有效提高了生产线的成本效益和效率。且其实时质量检测可以提高和优化诸如扩散和钝化等处理步骤。