在材料表征领域，确定物质的晶体结构是理解其物理化学性质的基础。X射线衍射（XRD）技术是进行物相鉴定、晶体结构解析的“黄金标准”。而布鲁克X射线衍射仪以其分辨率、稳定的性能和强大的软件分析平台，为材料、化学、地质、制药等众多学科的研究与质量控制提供了可靠的数据支撑。XRD技术基于布拉格定律，当X射线照射到晶体样品时，会产生具有特定规律的衍射花样。通过对衍射花样的角度和强度进行测量，可以像“解码”一样获得物质的晶体结构信息，包括：1、物相鉴定：通过与标准粉末衍射数据库（如ICD...

理解原始界面的化学环境是电化学、材料科学和表面科学领域长期追求的目标。电极-电解质界面（SEI）被认为是锂离子电池和锂金属电池中重要的固体界面。目前，我们对SEI化学状态的理解主要基于室温（RT）和超高真空（UHV）条件下的X射线光电子能谱（RT-XPS）。然而，在室温与超高真空条件下，SEI会因反应与挥发发生明显演化：（1）在室温下，自发的分解和生长反应会改变SEI的组成，如LiF、Li₂O和Li₃N等物种的相对含量会随时间增加而不断变化；（2）在超高真空环境中，SEI组分...

Lexsyg释光探测器|从紫外到X射线研究背景在医疗诊断、安检成像等X射线检测领域，高性能闪烁体材料是重要元件。传统无机晶体虽性能优异，但存在成本高、加工难等问题。近期，巴西圣卡洛斯物理研究所联合多国团队，在《FluorophosphateglassesdopedwithEu³⁺和Dy³⁺》研究中取得突破，开发出新型氟磷酸盐玻璃闪烁体，兼具高密度、长发光寿命与优异X射线响应特性，为低成本、可定制化辐射探测开辟新方向。重要发现Part.1材料设计创新团队采用熔融淬火技术，成功制...

在材料表面分析领域，光电子能谱仪（XPS）凭借“表面灵敏、元素精准、化学态解析”的核心优势，成为半导体、新能源、催化材料等行业的表面探针。它能实现从元素定性定量分析到化学价态识别的全维度检测，而设备的性能，始终依赖于一系列核心技术参数的精准把控。这些参数不仅决定了分析结果的可靠性，更直接影响着科研与生产中的应用边界。​能量分辨率是光电子能谱仪的核心生命线，直接决定化学态解析的精度。其定义为探测光电子能量的最小分辨能力，通常以C1s光电子峰的半高宽为衡量标准。主流商用设备的能量...

半导体器件的性能与可靠性，从根本上取决于其基底材料——半导体晶锭（以及由其切割而成的晶圆）的本征质量。其中，少数载流子寿命是衡量半导体材料质量的一个关键体参数，它直接影响着器件（如功率IGBT、光伏电池、探测器）的开关速度、能耗效率与稳定性。晶圆片晶锭寿命检测仪正是专门用于非接触、无损测量半导体材料中少数载流子寿命的精密仪器，它从材料源头进行质量筛查，是保障半导体器件性能的“本源守护者”。该检测仪的主流技术为微波光电导衰减法。其原理是：使用脉冲激光（或闪光）照射半导体样品（晶...

应用分享|TOF-SIMS质量分析器（下）：TRIFT结构及特点在上一篇文章中，我们探讨了TOF-SIMS高精度测量所面临的挑战，指出质量分析器需要具备精密的离子光学设计以应对这些挑战。三重飞行时间聚焦质量分析器（TRIpleFocusingTimeofflight，简称TRIFT）作为ULVAC-PHI的TOF质量分析器，凭借其宽通能、高景深和较大二次离子接收角等独特设计，在静态SIMS分析中表现出y性能。TRIFT起初由CharlesEvans&Associates公司开...

Lexsyg释光探测器|从紫外到X射线Lexsyg多谱段材料探测实录之-铽玻璃的「硬核」闪烁体基因研究背景在医疗影像、工业检测等领域，高性能闪烁体材料是实现高精度辐射探测的重要部件。传统单晶闪烁体虽效率高，但制备成本高昂且尺寸受限。近年来，玻璃闪烁体凭借其可塑性高、成本低等优势成为研究热点。巴西圣卡洛斯物理研究所团队近期在《JournalofAlloysａndCompounds》发表重要成果，成功开发出新型铽掺杂镓钨磷酸盐玻璃（NaPGaW:Tb³⁺），兼具高密度与优异发光性...

在实验室的精密仪器矩阵中，X射线衍射仪(XRD)始终占据着"材料基因解码器"的核心地位。从1912年劳厄发现晶体对X射线的衍射现象至今，这种基于布拉格定律的分析技术已走过百年历程。而今，在AI浪潮与产业升级的双重驱动下，XRD正从实验室的专属设备，蜕变为赋能多行业创新的关键力量，其市场格局与技术形态也正经历着前所未_有的深刻变革。市场图景：政策与需求共推千亿赛道崛起全球XRD市场正迎来稳健增长的黄金期。数据显示，2024年全球X射线衍射仪收入规模已达55.4亿元，销量突破27...